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新闻动态
金相制样总出划痕?你可能需要ALLIED金刚石砂纸
2026-09-29
金相制样中的划痕问题并非无法改善。ALLIED金刚石砂纸凭借其磨料特性、粒径均匀性和耐磨性能,为减少划痕、提升制样质量提供了一种可行的选择。
芯片开封机配套耗材成本精算:酸液、激光头、喷嘴更换周期
2026-08-24
芯片开封机的配套耗材成本精算,是半导体失效分析实验室运营预算中不可忽视的构成要素。该设备用于去除芯片封装材料以暴露内部电路结构,其工作过程依赖酸液刻蚀、激光辅助开窗及高压喷嘴清洗三种主要机制。
ALLIED碳化硅砂纸存放注意事项,避免受潮影响研磨精度
2026-06-26
ALLIED碳化硅砂纸是精密研磨与抛光工序中不可或缺的耗材,其研磨性能的稳定性直接关系到加工质量。
ALLIED冷镶嵌树脂在高通量实验室的应用
2026-05-26
ALLIED冷镶嵌树脂凭借其常温固化、保持样品完整性、适应自动化流程及化学稳定性等综合优势,成为高通量实验室样品制备环节中的重要材料。合理选用冷镶嵌树脂,有助于构建高效率、可重复且标准化的样品前处理体系,为后续准确、快速的材料分析提供可靠保障。
【企业动态】
芯片开封机常见故障排除及日常保养指南
2026-04-28
芯片开封机作为半导体器件封装开封环节的关键设备,其稳定运行直接影响工作效率与开封质量。掌握常见故障的排除方法,并建立规范的日常保养制度,对于延长设备使用寿命、保障开封效果具有重要意义。
芯片开封机在失效分析中的精准去封装技术
2026-03-25
作为失效分析的“第一道工序”,芯片开封机的精准去封装技术,是连接芯片封装与深度分析的桥梁。
【企业动态】
如何用ALLIED抛光液消除试样划痕、提高制样效率
2026-02-09
ALLIED抛光液的优势,在于其兼顾了划痕消除的精准度与制样的高效性,打破了“高品质必低效率”的误区。
芯片开封机操作全流程:从固定样品到腐蚀清洗的技巧
2026-01-29
掌握芯片开封机全流程需要理论知识与实践经验结合。每次操作前应研究芯片封装结构,选择合适方法。精细的手动控制配合恰当的化学处理,才能在暴露芯片内部结构的同时,最大限度保持电路完整性,为后续失效分析奠定基础。
芯片开封机在芯片失效分析中的应用
2025-12-23
从实验室到产线,芯片开封机不仅是失效分析的“刚需工具”,更是连接封装设计与芯片可靠性的桥梁。
ALLIED冷镶嵌树脂如何避免镶嵌变形?
2025-11-25
ALLIED冷镶嵌树脂凭借操作便捷、无需高温高压的优势,成为金相制样、材料检测等领域的常用镶嵌材料,但镶嵌变形问题常影响样品检测精度,甚至导致检测结果失真。
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